GE检测控制技术携新品精彩亮相 MICONEX2010多国仪器仪表展

　　　在本届多国仪器仪表展期间，GE检测控制技术打破常“硅”携其最新发布产品——TERPS沟槽刻蚀谐振式压力传感器“精”湛登场。TERPS沟槽刻蚀谐振式压力传感器10倍于现有硅压阻传感器，具有高精度、高稳定性、高量程技术特性，堪称TERPS技术性革命的转折点。TERPS沟槽刻蚀谐振式压力传感器强大的技术优势确保产品在航空航天、海洋工程、工业仪器设备、过程行业、测试设备等领域均具有广泛应用。

　　TERPS沟槽刻蚀谐振式压力传感器，较传统硅压阻测量范围大大提高，最高压力量程可达70MPa；具有10倍于现有硅压阻传感器精度及稳定性；采用介质隔离的方式使其在恶劣环境也使用；灵活的压力、电信号接口选择使用更加方便快捷，这些方面的优异特性共同造就了TERPS技术压力传感器革命性的优势。

　　从此次展会中我们可以看到，GE检测控制技术越来越注重中国本地化的需求，此次参展的新品中很多产品都充分考虑到了中国客户的需求，这些也都充分表明了GE立足中国、服务中国，在中国长期持续发展的决心。